• PALAS®纳米粒子测量系统

    在4nm至1400nm的纳米级范围内可靠确定粒径和数量

    PALAS®纳米粒子测量系统

    应用领域

    • 研究和开发,环境测量
    • 质量控制和过程优化
    • 保障工作健康和安全

    德国PALAS® – 超过30年的技术积淀

    1纳米与1米相比就像榛子的直径与地球的直径相比一样
    使用U-SMPS测量的卷烟烟雾尺寸分布

    纳米测量系统

    为了说明尺寸:1纳米与1米相比就像榛子的直径与地球的直径相比一样。
     
    就其尺寸而言,超细纳米颗粒与分子接近,并且仅自从扫描电子显微镜的发明才变得可见。如今,几乎没有一个没有它们的行业可以运行:它们用于化学工业,汽车工业以及能源和环境技术。纳米颗粒可用于乳脂、喷雾剂、药品、油漆、甚至用于纺织工业。

    如何可靠地测定纳米颗粒

    在研发,工业过程以及在环境和气候研究中,需要能够可靠地确定纳米粒子的尺寸分布和数量浓度的测量系统。其他应用领域包括在工作场所和封闭空间中进行测量,以确保工作中的健康和安全。
     
    PALAS®为研究和工业中的各种测量任务提供了复杂而可靠的系统,用于确定4nm至1400nm纳米级的粒径和数量。

    德国PALAS® – 超过30年的技术积淀

    PALAS® 公司历史——气溶胶精密仪器研发制造商

    使用U-SMPS测量的DNP尺寸分布
    Charme®的生产
    U-SMPS 2100
    Charme®

    超过30年的技术积淀

    PALAS®GmbH从事气体粒径和数量的测定已有数十年的历史。这还包括通过冷凝可测量超细颗粒的经历。PALAS®的冷凝颗粒计数器已获得专利保护。用于排放带电喷雾剂和测量带电喷雾剂的技术成为公司专业技术的一部分也已多年。
     
    可以使用气溶胶光谱仪(例如welas®digital 1000系统)测量颗粒,最大尺寸为120纳米。为了测量较小的颗粒,必须对其进行人工放大。为此可使用凝结颗粒计数器(例如UFCPC)。PALAS®的产品质量从细节中显现:可以在PALAS®的UF canCPC中使用各种工作液,例如丁醇或水-UFCPC通过了这两种认证。这项创新也受到专利保护。

    最高的可靠性和精确的测量结果

    近年来,根据我们在气雾剂技术方面的长期经验,我们开发了纳米颗粒测量系统。它们涵盖了该特殊学科所需的大多数要求。与我们所有的测量系统一样,用户在实际使用中完全可以依靠PALAS®高度的可靠性以及精确的测量结果进行相关分析工作。

    PALAS®为在4nm至1400nm的纳米级范围内确定
    粒径和数量提供复杂而可靠的系统

    关于纳米粒子测量系统产品的信息,将在下面产品部分具体介绍。

    德国PALAS® – 超过30年的技术积淀

    PALAS®纳米粒子测量系统——德国高标准、高质量、高成本效益

    U-SMPS测量:300 nm以下过滤介质的
    微小分离效率测量

    welas® digital 1000的生产

    Promo® 1000的生产
    UF-CPC 100的校准
    PALAS®员工的专业知识和PALAS®产品
    的质量为标准化流程做出了贡献。

    高质量和兼容性

    PALAS®的纳米颗粒测量系统为用户提供了高度的灵活性各个系统相互兼容,同时也可以毫无困难地与其他制造商的设备集成和组合。如果测量任务发生变化或变得更加复杂,则可以根据需要扩展和修改系统。这为纳米颗粒测量基础设施提供了非常好的投资保护
     
    所有设备均在PALAS®组装,并经过严格的质量保证测试。PALAS®质量管理体系已通过EN ISO 9001:2008和DIN EN15267认证。

    简单一致的操作理念

    除了最高的精度和可靠性,我们的设备还提供了简单而一致的操作理念。各种接口可以在基础架构中进行简单的集成 PALAS®从合理建议出发。我们将一起分析测量任务,并推荐最佳解决方案。我们始终将重点放在为客户提供最大利益上,并提供远程设备维护和在线支持。

    成本效益显著

    质量和技术优势是PALAS®纳米颗粒测量系统不仅运行极其可靠,而且由于维护成本极低,因此在运行方面特别具有成本效益。这些因素可帮助您降低运营成本。

    最先进的技术

    在开发粒子系统时,PALAS®紧跟当下工业和研究领域讨论的有关规范、标准和指令。 公司员工积极参与许多工作组。因此,用户可以放心使用,我们的测量设备始终代表着最先
    进的技术。在大多数情况下,产品会大大超出各自领域的要求。

    纳米颗粒测量技术的标准和指令

    • ISO TC 146/SC 6/WG 21                                                                                                       重点:室内测量
    • ISO/CD 16000-34                                                                                                                   重点:空气中颗粒物的测量策略
    • ISO/CD 16000-37                                                                                                                  重点:PM2.5的测量策略
    • ISO 28439:2011 from 1. April 2011                                                                                    重点:工作场所的空气–超细气溶胶/纳米气溶胶的表征
    • ISO/TR 27628:2007                                                                                                              重点:工作场所的空气­超细,纳米和纳米结构的气溶胶­吸入接触特性和评估
    • CEN/TC137/WG3                                                                                                                  重点:工作场所CPC的运用(正在准备中)
    • VDI 3867 Sheets 1 – 6                                                                                                         重点:使用计数测量方法测量室外空气中的颗粒
    • ISO 15900                                                                                                                             重点:差分电迁移率分类器(DEMC,原DMA)

    PALAS®纳米粒子测量系统——产品介绍

    PALAS®纳米粒子测量系统—DEMC差分电迁移率分类器

    DEMC的功能原理
    DEMC 2000

    DEMC差分电迁移率分类器

    PALAS®是第一家开发具有图形用户界面和“上下扫描”功能的SMPS的制造商。
    DEMC(通常也称为DMA)用于根据电迁移率选择气溶胶颗粒,并将其传递到设备的出口。 从多分散超细气溶胶开始,可以对每十年最多64个尺寸类别的单分散颗粒级进行分类。 该系统与尺寸为4nm至600nm的短分级列(DEMC 1000)以及尺寸为8nm至1400nm的长分级列(DEMC 2000)一起使用。

    意义重大的数据评估

    经过现场测试的数据评估使用户可以方便地操作并提供有意义且可靠的结果。 同时,DEMC还提供了各种数据导出选项。

    可与其他制造商的设备组合

    PALAS® DEMC具有的特殊优点是可以与其他制造商的CPC通用组合。 随着内部软件的开发,PALAS®可以快速、经济、高效地将系统集成到现有基础架构中

    PALAS®纳米粒子测量系统——UF-CPC-通用流体冷凝粒子计数器

    UF-CPC功能原理
    UF-CPC 100

    UF-CPC – 通用流体冷凝粒子计数器

    UF-CPC可测量悬浮在空气和其他载气中的超细颗粒和纳米颗粒的总颗粒浓度。冷凝过程将颗粒扩大,以便能够使用光学光散射检测器精确地确定其数量。
     
    PALAS®提供的UF-CPC冷凝颗粒计数器可用于低、中和高浓度检测。这使单个粒子计数达到1,000,000个粒子/ cm3。除数量外,所有设备均可测量液滴的大小。 用户因此可以获得有关冷凝过程的附加信息。

    通过选择工作流体实现高度灵活性

    PALAS®新型工作流体输送系统使用了专利技术,这意味着它可以使用最适合各自工艺的丁醇、水或其他流体。用户除了通过触摸屏进行直观操作外,还可以通过高度开发的软件进行数据评估。

    通用网络兼容

    UF-CPC配备了集成的数据记录器,过程监控也可适用。冷凝粒子计数器支持标准化接口,通过该接口可以选择各种协议(例如Modbus)。UF-CPC还有其他功能,例如:通过互联网或内部网络的进行远程访问和数据存储。

    PALAS®纳米粒子测量系统——Charme®参考气溶胶静电计

    Charme® 功能原理
    Charme®

    Charme®–参考气溶胶静电计

    PALAS®的Charme®参考气溶胶静电计用于测量气溶胶的平均电荷。高性能的法拉第杯气溶胶静电计,适用于浓度范围从2 nm到100μm的测量,具有可靠的性能、最佳质量的组件以及易于操作的触摸屏。尤其是对颗粒浓度和静电计电流的快速测量(10Hz),也可以实时显示,效果令人惊艳。
     
    对于多分散气雾剂,通常使用充电器或中和剂来产生确定的电荷分布。如果使用上游分类器(例如PALAS®DEMC)设置了粒径,则可以根据电流测量值(电荷/时间)间接确定粒子的数量浓度。

    可更换的重量过滤器

    Charme®配有重量过滤器,用户可以更换该过滤器,以实现被测电流与质量浓度的就地关联。这使得气溶胶光谱仪特别适合研究环境和工作场所中的高颗粒负荷。Charme®也非常适合校准冷凝颗粒计数器。

    PALAS®纳米粒子测量系统——中性剂

    电晕放电

    作为全球第一家公司,PALAS®在过滤器测试系统中使用了电晕放电原理来中和测试气溶胶,由此获得了卡尔斯鲁厄“Technologiefabrik”(技术工厂)于2010年授予的创新奖。
     
    卡尔斯鲁厄技术学院(KIT)为小型供热设备开发的新型化学烟尘分离器而获得一等奖,此项目由保罗博士、博洛加博士、沃兹先生共同研究。上面提及的电晕放电是这一发展的重要组成部分。

    Kr-85-370

    卡尔斯鲁厄技术

    XRC 370

    卡尔斯鲁厄技术

    清晰地界定电荷分布

    气溶胶中和剂用于制造确定的电荷分布,以便使用扫描迁移率粒度仪(例PALAS®USMPS)进行测量。为了中和电荷并设置定义的电荷分布,我们提供具有57 MBq或370 MBq活性的双极Krypton-85中和剂。

    与单极中和相比,双极中和具有关键性优势:无论粒子的初始电荷状态如何,始终会建立可重现的平衡电荷分布。用户可以根据需求从PALAS®购买带有铅包的附加外壳,在运行过程中可以存放Kr-85-57或Kr-85-370。
    借助XRC 370,PALAS®还提供了一种非放射性中和剂,用于使用X射线设置定义的电荷分布。在一篇学术论文中,研究人员将XRC 370与Kr8557和Kr85 compared370进行了比较,发现XRC 370是一个有吸引力的替代方案。

    PALAS®的其他纳米颗粒测量设备

    • Promo®1000–Promo®1000专为过程监控而开发,并配有集成的PC和触摸屏。它可以集成在过程控制系统中,并可以通过外部软件进行操作和评估。dp = 120 nm,可选超压至10 bar。
    • welas®digital 1000–welas®digital 1000能够在浓度非常高的情况下精确测定粒径和浓度,可达到106颗粒/cm3 而无需稀释。dp = 120 nm,可选超压至10 bar。

    我们的核心竞争力

    • 过滤器测试系统*
    • 气溶胶光谱仪系统*
    • 细粉尘监测系统
    • 纳米粒子测量技术
    • 粒子生成系统*
    • 稀释系统*
    • 洁净室内粒子技术
    • 特别开发
    • 校准系统*
    • 服务
    • 培训课程和研讨会
    *PALAS® 是这些产品类目的市场领导者

    PALAS® - 超过30年的气雾技术专业知识

    PALAS®拥有50多项专利申请,在气雾剂和颗粒技术领域树立标准已超30年。通过不断的创新,我们实现了产品的非凡质量和耐用性。成果是为我们的客户带来的独特技术和经济优势。
     
    PALAS®已在气雾生成,气雾稀释和气雾颗粒测量技术领域确立了自己全球市场领导者的地位。大约60个国家和地区的知名公司,大学和研究机构对PALAS®的精密技术表示信任。
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    德国PALAS 纳米粒子测量系统产品手册

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